解决规划
CIS/TOUCH/TOF测试规划
行业测试挑战
规划概述
CIS测试解决规划概述
CIS测试解决规划，重要由Tester、Tester IPC、IMAGE IPC 、高速采集系统、Prober/Handler这几个部门组成
Tester IPC
布署CIS Server+ATE Client
CIS Server：掌管CIS整体业务测试
ATE Client：掌管DC+Function测试
CIS Server
使用IPC自带的HP卡，节造Prober或Handler的作为
使用USB或串口，节造光源作为
通过自界说高速通讯和谈，节造ATE Client和IMAGE Client的作为
IMG Client
使用CIS高速图像采集测试系统，实现图像数据的采集
通过配置自造加快？槭迪滞枷癫馐缘募涌旄衬
规划介绍
主题优势
CORE ADVANTAGES
有关产品
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通路
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通路
ST2516/ST2532
160~1280数字通路，160~1280PPMU通路，20~160DPS
ST2516/ST2532
160~1280数字通路，160~1280PPMU通路，20~160DPS
成功案例
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